工程师开发了强大的工具来帮助半导体制造商发现缺陷

由于澳大利亚国立大学(ANU)开发的突破性发明，有缺陷的移动电话和太阳能电池很快就会成为过去。

工程师们已经开发出一种强大的新工具，可以帮助制造商发现日常技术中的缺陷或不需要的功能 - 例如移动电话，电池和太阳能电池 - 在制造过程中更容易和更早。

主要作者Hieu Nguyen博士说，这项发明的工作原理是在几秒钟内捕获半导体材料的高分辨率图像，包括许多潜在的缺陷。

“我们称之为'速度和空间的奇迹'。它不仅比当前使用的技术快几倍 - 它的速度提高了数万倍，”澳大利亚国立大学电气，能源研究院的Nguyen博士说。材料工程。

“这为研究和工业领域的新一代超高分辨率，精确表征和缺陷检测工具打开了大门。”

澳大利亚国立大学的研究人员与美国国家可再生能源实验室的科学家合作，发现各种半导体材料发出的光，包括硅，钙钛矿和许多薄膜，具有一些非常独特的特性。

Nguyen博士说，一旦这种光被摄像机捕获，光学图像可用于收集有关材料如何工作的重要信息。

“现在我们对光的特性了解得更多 - 而且从图像中我们可以提取不同深度的不同信息，”他说。

“这项研究的优点在于我们使用了商业上可用的普通工具，并将它们转化为非凡的东西。”

Nguyen博士说，他的团队通过捕获光学带隙图像展示了他们的方法，这是研究人员需要了解的关于材料的第一批信息。

这种带隙决定了半导体的许多特性，包括吸收光和导电的能力。

“我们在澳大利亚国立大学制造的各种最先进的钙钛矿太阳能电池上广泛测试了这项发明，并用许多其他低速或低分辨率技术独立地证实了这一结果。它们完美匹配，”他说。

“我们正在改进这项发明，以便将其商业化。”

来自澳大利亚国立大学的共同作者Boyi Chen表示，他对团队研究成果感到非常兴奋。

“在发明之前，花了整整一周的时间才能在设备上获得高质量的带隙图像。现在，通过我们的发明，只需几秒钟就能获得相同质量的图像，”陈先生说。

“本发明将有助于生产更强大的移动电话，太阳能电池，传感器和其他光学设备，因为它可以在制造过程中很早就发现缺陷。”